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EPSON-NSCN晶体电路评估联合测试中心正式运营
晶体测试,爱普生EPSON称呼为CE测试(Crystal Evaluation)、晶体回路匹配测试,主要评估无源晶体回路特性,帮助客户可靠的使用晶体器件,评估客户当前电路板晶体回路特性。常规测试是通过调节负载电容等,来评估当前晶体回路的频偏、起振能力(-R)、驱动功率。
近期,“EPSON-NSCN晶体电路评估联合测试中心”正式运营,该中心是南山电子在爱普生的指导下成立的,且通过了爱普生的认证。
至此,南山电子可为您提供爱普生晶体CE测试服务, 客户提供原理图和电路板,我们进行CL的调整,评估输出频率、驱动功率、起振能力,使其工作在一个稳定的、适合的状态。我们会在优先不改变客户回路基础之上进行调节。
测试地点:EPSON-NSCN晶体电路评估联合测试中心
地址:江苏溧阳市昆仑街道金港路110号(江苏南山电子工业有限公司)
联系人:全清清(18112328586) 徐文波(13701585577)
如果您需要进行CE测试,请下载晶体CE测试表格,并按照以下的说明进行填写,然后发给我们。
晶体CE测试表格填写说明:
*客户中英文名: |
xxxxxx |
*support voltage: |
adaper or VDD ?V |
*应用: |
例如:手机,电脑,智能设备 |
IC供应商: |
例如 TI、ST |
项目名称: |
xxxxxx |
IC型号: |
xxxxxx |
date: |
xx/xx/xx |
Other request: |
xxxxxx |
*客户联络人/电话: |
李某某/135******** |
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crystal |
describe |
Epson No |
item 1: |
YC1 |
FC-135R 32.768000 kHz 9.0+20.0-20.0 |
X1A0001410002 |
item 2: |
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item 3: |
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item N: |
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1.原理图
需要表示出晶体回路器件编号。如果是多个测试晶体,可以放在一个原理图中标出。下图为示例:
2. 晶体回路的 PCB layout
需要标出晶体和负载电容位置。如果是多个测试晶体,可以放在一个layout中标出;如果有正面和反面测试,请提供正反面的pcb截图。下图为示例:
3. 实物位置图
标出晶体实际位置在电路板上。如果有正反面,请标清楚晶体位置。下图为示例:
4.供电方式,供电按键等示意图
请引出供电线标注清楚供电电压。有电源,请提供供电电源;有按键开关,请标注按键位置。下图为示例:
注意:板子上的晶振必须是通电后能够始终持续震荡的,不可以间歇振荡,并用标签在板子上贴上贵司的名称。
如果您需要进行CE测试,请下载晶体CE测试表格,并按照以上的说明进行填写,然后发给我们。
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